控制测量包括平面控制测量和高程控制测量。

独立坐标系统和部定3度带坐标系统的区别在于投影面选取的不同。

判断题独立坐标系统和部定3度带坐标系统的区别在于投影面选取的不同。

测距仪测距时，应避免有另外的反光或发光体位于测线或测线的延长线上。

判断题测距仪测距时，应避免有另外的反光或发光体位于测线或测线的延长线上。

在偶然误差中，绝对值相等的正负误差出现的概率不同。

判断题在偶然误差中，绝对值相等的正负误差出现的概率不同。