对于接触法只须将能使缺陷落在其远场区内的纵波直探头在试件表面移动，即可获得缺陷的（）所在的位置，从而定出缺陷的平面位置。

对于长条形试件，则常沿（）作平行纵轴的直线式扫查。A.长度方向B.周长方向C.圆周方向

单项选择题对于长条形试件，则常沿（）作平行纵轴的直线式扫查。

对于圆盘形试件，常沿（）在圆面上进行扫查。A.周长方向B.长度方向C.圆周方向

单项选择题对于圆盘形试件，常沿（）在圆面上进行扫查。

扫查方式一般视试件的（）而定。A.形状B.形状及入射方向C.入射方向D.方向

单项选择题扫查方式一般视试件的（）而定。