测长法是根据测长缺陷回波高度变化与探头移动位置的相互关系来确定缺陷尺寸的。按规定的方法测得的缺陷长度称为缺陷的（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于声束截面的缺陷定量。A.当量法B.测长法C.半波高度法D.绝对灵敏度法

单项选择题（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于声束截面的缺陷定量。

缺陷的定量包括缺陷大小和数量的确定，而缺陷的大小可由缺陷的面积或（）来表征。A.当量B.宽度C.高度D.长度

单项选择题缺陷的定量包括缺陷大小和数量的确定，而缺陷的大小可由缺陷的面积或（）来表征。

当调节检测灵敏度用的试块与工件（）、曲率半径不同或材质衰减不同时，需要进行传输修正。A.密度B.声阻抗C.晶粒...

单项选择题当调节检测灵敏度用的试块与工件（）、曲率半径不同或材质衰减不同时，需要进行传输修正。