单项选择题

半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()

A.可靠性测定试 
B.可靠性鉴定试验 
C.可靠性验收实验 
D.环境应力筛选试验