单项选择题
A、声束扩散 B、材质衰减 C、仪器阻塞效应 D、折射
容易探测到的缺陷尺寸一般不小于()。A、波长的一半B、1个波长C、1/4波长D、若干波长
单项选择题容易探测到的缺陷尺寸一般不小于()。
A、波长的一半 B、1个波长 C、1/4波长 D、若干波长
锻件中缺陷的取向通常为()。A、杂乱 B、平行于晶粒流向 C、垂直于晶粒流向 D、与晶粒流向成45°角
单项选择题锻件中缺陷的取向通常为()。
在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因()。A、可能是疏松B、可...
单项选择题在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因()。
A、可能是疏松 B、可能是大晶粒 C、可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良 D、上述三种都可能