问答题
（1）通用BIT技术：测试点的选择直接影响被测系统的测试性。包括余度BIT技术、环绕BIT技术、并行测试技术。
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常规BIT技术有哪些缺陷？如何解决这些问题？
问答题常规BIT技术有哪些缺陷？如何解决这些问题？
简述智能仪器设计的基本要求。
问答题简述智能仪器设计的基本要求。
智能仪器设计时一般应遵循的基本原则。怎样理解“组合化与开放式设计思想”？
问答题智能仪器设计时一般应遵循的基本原则。怎样理解“组合化与开放式设计思想”？
