单项选择题
A.少子寿命B.电阻率C.曲翘度D.平整度
最常用于测试半导体材料电阻率的方法是（）。A.四探针法B.范德堡法C.扩展电阻法D.两探针法
单项选择题最常用于测试半导体材料电阻率的方法是（）。
A.四探针法 B.范德堡法 C.扩展电阻法 D.两探针法
铸造多晶硅中的晶体掺杂可采用（）。A.BH3B.PH3C.BD.B2O3
单项选择题铸造多晶硅中的晶体掺杂可采用（）。
A.BH3B.PH3C.BD.B2O3
铸造多晶硅制备目前最常用的方法是（）。A.热交换法B.布里奇曼法C.浇铸法D.电磁铸锭法
单项选择题铸造多晶硅制备目前最常用的方法是（）。
A.热交换法 B.布里奇曼法 C.浇铸法 D.电磁铸锭法
