问答题
硅中的氧主要以间隙的形式存在。间隙氧含量的测量，是用红外光谱仪测定硅-氧键在1107cm-1（9.......
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简述陷阱效应的表现和消除方法。
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什么是少子寿命检测中的陷阱效应？
问答题什么是少子寿命检测中的陷阱效应？
哪些因素决定少子寿命？
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