潜在ESD损伤产品难以检验出来。

在进行静电源控制时，电容大小不影响静电风险，因此没有测试要求。

判断题在进行静电源控制时，电容大小不影响静电风险，因此没有测试要求。

CDE不可能比CDM能量高。

判断题CDE不可能比CDM能量高。

孤立导体带电可能由静电源感应形成。

判断题孤立导体带电可能由静电源感应形成。