判断题
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缺陷所反射的回波大小只取决于缺陷大小。
判断题缺陷所反射的回波大小只取决于缺陷大小。
斜探头近场区长度是按晶片在投影后的有效面积计算。
判断题斜探头近场区长度是按晶片在投影后的有效面积计算。
从各个方向都能探测到的缺陷是平面状缺陷。
判断题从各个方向都能探测到的缺陷是平面状缺陷。