对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。

测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。

判断题测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。

所有测量结果都存在一定的误差。

判断题所有测量结果都存在一定的误差。

测量系统分析的样品必须是选自于过程并且代表整个的生产的范围。

判断题测量系统分析的样品必须是选自于过程并且代表整个的生产的范围。