串列式双探头法探伤即为穿透法。

半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。

判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。

当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。

判断题当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。

所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的。

判断题所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的。