多次底波法缺陷检出灵敏度低于缺陷回波法。

CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。

判断题CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。

标准试块的材质应尽可能与被检工件相同或相近。

判断题标准试块的材质应尽可能与被检工件相同或相近。

目前使用最广泛的超声测厚仪是脉冲反射式测厚仪。

判断题目前使用最广泛的超声测厚仪是脉冲反射式测厚仪。