使用有全数字电子倍增器检测器的ICP-MS不需要进行脉冲模式和模拟模式交叉校准。

测量一个特定质量的信号所需的驻留时间是影响检出限和精密度的重要参数。

判断题测量一个特定质量的信号所需的驻留时间是影响检出限和精密度的重要参数。

ICP-MS中的质量分析器一般需置于比5MPa更低压力的真空系统中，以使系统中背景离子减到最少，从而把离子的碰...

判断题ICP-MS中的质量分析器一般需置于比5MPa更低压力的真空系统中，以使系统中背景离子减到最少，从而把离子的碰撞效应减到最小。

在ICP-MS分析中，降低样品在等离子体中的驻/停留时间可降低氧化物产率，降低难熔氧化物的干扰。

判断题在ICP-MS分析中，降低样品在等离子体中的驻/停留时间可降低氧化物产率，降低难熔氧化物的干扰。