判断题
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利用电磁藕合效应,可以测定磁性金属基体上的各种膜层厚度。
判断题利用电磁藕合效应,可以测定磁性金属基体上的各种膜层厚度。
利用提离效应,测定非磁性基体金属上的绝缘涂层厚度时,一般使用较低的试验频率。
判断题利用提离效应,测定非磁性基体金属上的绝缘涂层厚度时,一般使用较低的试验频率。
磁性材料一般使用磁特性测量进行材质分析。
判断题磁性材料一般使用磁特性测量进行材质分析。