单项选择题
A.计数器狭缝B.衍射晶体C.探测器D.滤波片
EDS分析中，应选用点分析方法的是（）A.材料中晶界B.材料中杂质C.材料中相分布D.元素偏析
单项选择题EDS分析中，应选用点分析方法的是（）
A.材料中晶界B.材料中杂质C.材料中相分布D.元素偏析
XRF压片制样时，不能作为粘结剂的是（）A.甲基纤维素B.粉煤灰C.硼酸D.石蜡
单项选择题XRF压片制样时，不能作为粘结剂的是（）
A.甲基纤维素B.粉煤灰C.硼酸D.石蜡
X射线波段在（）A.0.01～10nmB.10～200nmC.>300nmD.>200nm
单项选择题X射线波段在（）
A.0.01～10nmB.10～200nmC.>300nmD.>200nm
