单项选择题
A.用刀口尺以光隙法检定 B.用平晶以技术光波干涉法检定 C.用刀口尺以量块比较法检定
某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）A.0.0...
单项选择题某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）
A.0.01mm B.0.02um C.0.03um
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）A.0.03umB....
单项选择题以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）
A.0.03um B.0.05um C.0.10um
游标高度尺的用途，除测量高度外，还用于划线，那么划线用的量爪，其刃口厚度为（）A.0.15±0.05mmB.0...
单项选择题游标高度尺的用途，除测量高度外，还用于划线，那么划线用的量爪，其刃口厚度为（）
A.0.15±0.05mm B.0.10±0.05mm C.0.20±0.05mm
