单项选择题
A.作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据 B.为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具 C.为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证 D.提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体
在平整．光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头，因为这样：（）A.虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声B...
单项选择题在平整．光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头，因为这样：（）
A.虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声 B.脉冲窄，探测灵敏度高 C.探头与仪器匹配较好 D.以上都对
为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法：（）A.使用高声阻抗耦合剂B.使用软保护膜探头C.使用较低频率和...
单项选择题为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法：（）
A.使用高声阻抗耦合剂 B.使用软保护膜探头 C.使用较低频率和减少探头耦合面尺寸 D.以上都可以
被检工件晶粒粗大，通常会引起：（）A.草状回波增多B.信噪比下降C.底波次数减少D.以上全部
单项选择题被检工件晶粒粗大，通常会引起：（）
A.草状回波增多 B.信噪比下降 C.底波次数减少 D.以上全部
