探头的选择主要是对晶片尺寸、角度、频率等几个方面选择。

检测条件有频率、探头、检测部位及其粗糙度、检测灵敏度。

判断题检测条件有频率、探头、检测部位及其粗糙度、检测灵敏度。

轴类锻件的超声检测应采用径向检验、轴向检验、斜探头周向检验、斜探头轴向检验。

判断题轴类锻件的超声检测应采用径向检验、轴向检验、斜探头周向检验、斜探头轴向检验。

扫查应注意扫查速度、接触的稳定性、方向性、同步与协调。

判断题扫查应注意扫查速度、接触的稳定性、方向性、同步与协调。