填空题
计量检定;计量检定工作
在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。A.0.00...
单项选择题在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。
A.0.001mm B.0.002mm C.0.003mm
在使用测长机测量球面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的平面测帽调整到正确的位置,其达到正确的位置时,测长机的示...
单项选择题在使用测长机测量球面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的平面测帽调整到正确的位置,其达到正确的位置时,测长机的示值应处于()。
A.最小值 B.最大值 C.一方位最大值,一方位最小值
在使用测长机测量平面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的球面测帽调整到正确的状态,其达到正确状态时,测长机的示值...
单项选择题在使用测长机测量平面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的球面测帽调整到正确的状态,其达到正确状态时,测长机的示值应处于()。
A.最小值 B.最大值 C.一方位最大值,另一方位最小值