判断题

双探头法检测,对于与波束轴线垂直的面状缺陷和立体型缺陷的检出效果最好;与波束轴线平行的面状缺陷难以检出。

【参考答案】

错误

(↓↓↓ 点击‘点击查看答案’看答案解析 ↓↓↓)