在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。

在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。A.细B.粗C.超粗

单项选择题在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。

在X射线荧光分析中，选择准直器时应在不发生（）重叠前提下，分辨率和（）之间要折中考虑，不要太强调分辨率。A.谱...

多项选择题在X射线荧光分析中，选择准直器时应在不发生（）重叠前提下，分辨率和（）之间要折中考虑，不要太强调分辨率。