填空题
接收电路
接触法探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法测定缺陷大小。
填空题接触法探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法测定缺陷大小。
采用接触法超探,探测距离大时,为获得较集中的能量,应选用()直径的晶片。
填空题采用接触法超探,探测距离大时,为获得较集中的能量,应选用()直径的晶片。
采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。
填空题采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。