判断题
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假磁痕、相关磁痕、非相关磁痕都是由漏磁场产生的。
判断题假磁痕、相关磁痕、非相关磁痕都是由漏磁场产生的。
A性标准试片使用时,应将无人工缺陷的面置于试件外。
判断题A性标准试片使用时,应将无人工缺陷的面置于试件外。
磁粉应具有高的磁导率,高的矫顽力和剩磁。
判断题磁粉应具有高的磁导率,高的矫顽力和剩磁。