当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

判断题对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

工频耐压试验时，与保护间隙串接的保护电阻器，其阻值通常取1Ω/V。

判断题工频耐压试验时，与保护间隙串接的保护电阻器，其阻值通常取1Ω/V。

直流泄漏电流测量施加的直流试验电压较高，属于破坏性试验。

判断题直流泄漏电流测量施加的直流试验电压较高，属于破坏性试验。