垂直法探伤时，对要求不太高的工件常采用局部法进行扫查，局部法扫查一般分为（）。

在横波探伤中，探头K值对探伤（）有较大的影响。A.灵敏度B.超声波的强弱C.声束轴线的方向D.一次波的声程E....

多项选择题在横波探伤中，探头K值对探伤（）有较大的影响。

探伤中探头晶片尺寸增加，相应的（）对探伤有利。A.半扩散角减小B.近场区长度增加C.波束指向性好D.半扩散角增...

多项选择题探伤中探头晶片尺寸增加，相应的（）对探伤有利。

超声波探伤探头的型式一般有（）等。A.直探头B.纵波斜探头C.横波斜探头D.表面波探头E.双晶探头等

多项选择题超声波探伤探头的型式一般有（）等。