按照尽可能声束与缺陷垂直的原则，选择探头主要考虑所测试件的结构和（）。

探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。

填空题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。

斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。

填空题斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。

探头的选定频率下限则由探伤灵敏度、脉冲宽度及（）决定。

填空题探头的选定频率下限则由探伤灵敏度、脉冲宽度及（）决定。