与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。

中心切槽的半圆试块，其反射特点是多次回波总是等距离出现。

判断题中心切槽的半圆试块，其反射特点是多次回波总是等距离出现。

当斜探头对准IIW2试块上R50曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的。

判断题当斜探头对准IIW2试块上R₅₀曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的。

利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。

判断题利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。