检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线...

判断题检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。

千分尺刻线宽度及宽度差是在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽二条刻线。

判断题千分尺刻线宽度及宽度差是在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽二条刻线。

检定千分尺的测力，用分度值不大于0.2N的专用测力计检定。检定时，使工作面与测力计的球工作面接触后进行。

判断题检定千分尺的测力，用分度值不大于0.2N的专用测力计检定。检定时，使工作面与测力计的球工作面接触后进行。