半机械半电子测量系统不能随着测量点数据的变化而及时地反映出来，需要不断反复测量不同的控制点来确定相关尺寸的正确性，操作比较繁琐，效率较低。

半机械半电子测量系统在测量中每次只能测量一个控制点，或两个控制点之间的位置参数，不能同时测量多个控制点。

判断题半机械半电子测量系统在测量中每次只能测量一个控制点，或两个控制点之间的位置参数，不能同时测量多个控制点。

与轨道式量规比较，通用测量系统具有即时读取的优点

判断题与轨道式量规比较，通用测量系统具有即时读取的优点

使用米桥式测量系统时，测量头选择错误，测量出来的宽度数据就不准确

判断题使用米桥式测量系统时，测量头选择错误，测量出来的宽度数据就不准确