判断题
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园芯片斜探头的上指向角小于下指向角。
判断题园芯片斜探头的上指向角小于下指向角。
被磁化的试件表面有一裂纹，使裂纹吸引磁粉的原因是裂纹的高应力。
判断题被磁化的试件表面有一裂纹，使裂纹吸引磁粉的原因是裂纹的高应力。
胶片粒度是影响小缺陷可见性的重要因素。
判断题胶片粒度是影响小缺陷可见性的重要因素。
