使用磁轭探伤，当磁极与探伤面接触不良时，在磁极周围不能探伤的盲区就增大。

灵敏度标准试片可用来测定磁粉探伤系统的综合性能和磁粉性能。

判断题灵敏度标准试片可用来测定磁粉探伤系统的综合性能和磁粉性能。

A型标准试片上施加磁粉是用剩磁法进行的。

判断题A型标准试片上施加磁粉是用剩磁法进行的。

用A型标准试片可以估计磁场强度的大小。

判断题用A型标准试片可以估计磁场强度的大小。