多项选择题
A.元器件参数所取数值的误差 B.用户使用环境条件变化形成的误差 C.重复试验中的随机误差 D.产品制造过程中工艺条件变化形成的误差
XR控制图比X-MR（单值移动极差）控制图应用更为普遍的原因在于（）A.XR图可适用于非正态的过程B.XR有更...
多项选择题XR控制图比X-MR（单值移动极差）控制图应用更为普遍的原因在于（）
A.XR图可适用于非正态的过程 B.XR有更高的检出力 C.XR图作图更为简便 D.XR图需要更少的样本含量
在X图中，下列情况可判为异常（）UCLABCCLCBALCLA.连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外B....
在X图中，下列情况可判为异常（）UCLABCCLCBALCL
A.连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外 B.连续15点落在中心线两侧的C区内 C.连续9点落在中心线同一侧 D.连续4点递增或递减
在芯片生产车间，每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数，对于控制图的选用，下列正确的是（）A.使用C...
多项选择题在芯片生产车间，每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数，对于控制图的选用，下列正确的是（）
A.使用C控制图最方便 B.也可以使用U控制图，效果和C控制图相同，但不如C控制图方便 C.也可以使用p控制图，效果和C控制图相同，但不如C控制图方便 D.使用np控制图，效果和C控制图相同
