判断题

采用激光偏振检测系统可确定硅片表面疵病的性质,即区分疵病是划痕、裂痕、麻点、灰尘、油污膜层或其他缺陷。

【参考答案】

正确

(↓↓↓ 点击‘点击查看答案’看答案解析 ↓↓↓)