检验近表面缺陷最有效的方法是斜探头。

由发射探头发射的超声波，通过试件后再由另一接收探头接收，这种方法称为穿透法。

判断题由发射探头发射的超声波，通过试件后再由另一接收探头接收，这种方法称为穿透法。

晶片越厚频率越低。

判断题晶片越厚频率越低。

缺陷反射能量的大小取决于缺陷的尺寸。

判断题缺陷反射能量的大小取决于缺陷的尺寸。