问答题
SEM是利用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像,试样为块状或粉末颗粒,成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子等,其中......
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简述TEM的特点及主要用途。
问答题简述TEM的特点及主要用途。
简述图像衬度的概念。
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简述TEM的样品制备及主要类型。
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