单项选择题
A.水平线性、垂直线性、衰减器精度 B.灵敏度余量、盲区、远场分辨力 C.动态范围、频带宽度、探测深度 D.垂直极限、水平极限、重复频率
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）A.近场干扰B.材质衰减C....
单项选择题单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
A.近场干扰 B.材质衰减 C.盲区 D.折射
调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的（）A.垂直线性B.动态范围C.灵敏度D.以上全部
单项选择题调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的（）
A.垂直线性 B.动态范围 C.灵敏度 D.以上全部
仪器的垂直线性好坏会影响：（）A.缺陷的当量比较B.AVG曲线面板的使用C.缺陷的定位D.以上都对
单项选择题仪器的垂直线性好坏会影响：（）
A.缺陷的当量比较 B.AVG曲线面板的使用 C.缺陷的定位 D.以上都对
