渗透探伤适用于探测疏松多孔性材料的缺陷。

磁粉探伤只适用于探测铁磁性材料和工件的缺陷。

判断题磁粉探伤只适用于探测铁磁性材料和工件的缺陷。

超声波探伤特别适用于探测体积型缺陷。

判断题超声波探伤特别适用于探测体积型缺陷。

射线照像探伤特别适用于探测体积型缺陷。

判断题射线照像探伤特别适用于探测体积型缺陷。