探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。

双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

单项选择题双晶探头用于探测工件（）缺陷。

探伤仪主要指标中的动态范围和电路中的（）关联较大。A、电源部分B、显示部分C、接收部分D、发射部分

单项选择题探伤仪主要指标中的动态范围和电路中的（）关联较大。

通常在检修探伤仪故障时，为了准确迅速的判明故障部位除根据电原理进行分析外，还可采用（）、调换通道、测量波形等方...

单项选择题通常在检修探伤仪故障时，为了准确迅速的判明故障部位除根据电原理进行分析外，还可采用（）、调换通道、测量波形等方法。