处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度（）。

用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此...

单项选择题用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。

用试块对比法求得的缺陷大小（）。A、称为当量B、与实际大小相等C、是缺陷的最大长度D、是缺陷的最大宽度

单项选择题用试块对比法求得的缺陷大小（）。

在检测条件相同的情况下，某一个缺陷的指示埋藏深度及回波高度与对比试块上φ4mm平底孔相同，则该缺陷的大小相当于...

单项选择题在检测条件相同的情况下，某一个缺陷的指示埋藏深度及回波高度与对比试块上φ4mm平底孔相同，则该缺陷的大小相当于（）平底孔。