计算过程能力Cpk数值，需要收集数据：USL规格上限、LSL规格下限、（）、σ为过程标准差、极差R。

管制图中英文字母符号代表的规格上限为（），规格下限为LSL，控制上限为UCL，控制下限为LCL。

填空题管制图中英文字母符号代表的规格上限为（），规格下限为LSL，控制上限为UCL，控制下限为LCL。

当CPk大于（），说明制程能力很好，不需要改善。

填空题当CPk大于（），说明制程能力很好，不需要改善。

田口方法将产品的设计分为三次（）、参数设计和容差设计。

填空题田口方法将产品的设计分为三次（）、参数设计和容差设计。