与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。

利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。

判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。

软保护膜探头可减少粗糙表面对探伤的影响。

判断题软保护膜探头可减少粗糙表面对探伤的影响。

斜探头前部磨损较多时，探头的K值将变小。

判断题斜探头前部磨损较多时，探头的K值将变小。