使用OPM盘扫波发现λ4（1530.33nm），无上波，可能故障原因是（）

OTN设备的测试一般包括哪几种？（）A.光功率测试B.误码测试C.光谱测试D.smartbits测试收发包

多项选择题OTN设备的测试一般包括哪几种？（）

光谱分析仪对OTN系统进行测试时，可以对哪些项目进行测试？（）A.光谱谱宽B.边摸抑止比C.光功率D.信噪比

多项选择题光谱分析仪对OTN系统进行测试时，可以对哪些项目进行测试？（）

OPM盘可测系统的（）。A.待测信号的通道数B.平坦度C.各通道波长D.OSNR

多项选择题OPM盘可测系统的（）。