多项选择题
A.禁止使用循环组合电路 B.FF的时钟信号必须能够从外部端口直接控制 C.FF的复位信号必须能够从外部端口直接控制 D.扫描测试时，RAM和内核需要分开进行设计
以下关于可测性设计的描述中，哪些是正确的（）。A.可测性设计就是在设计阶段考虑测试因素，牺牲一部分芯片面积换得...
多项选择题以下关于可测性设计的描述中，哪些是正确的（）。
A.可测性设计就是在设计阶段考虑测试因素，牺牲一部分芯片面积换得测试的容易化 B.可测性设计使用自动生成工具（ATPG），易于生成故障覆盖率高的测试模式 C.可测性设计由于增加了设计负荷，将一定导致芯片整体开发成本的增加 D.可观察性与可控制性是衡量可测性设计的两个尺度
以下问题描述中，哪些有可能通过可测性设计发现（）。A.制造误差B.性能问题C.制造故障D.功能未满足顾客的需求
多项选择题以下问题描述中，哪些有可能通过可测性设计发现（）。
A.制造误差 B.性能问题 C.制造故障 D.功能未满足顾客的需求
以下关于逻辑综合的描述，哪些是正确的（）。A.逻辑综合的结果是唯一的B.逻辑综合技术可分为生成顺序电路和生成组...
多项选择题以下关于逻辑综合的描述，哪些是正确的（）。
A.逻辑综合的结果是唯一的 B.逻辑综合技术可分为生成顺序电路和生成组合电路两类 C.布尔逻辑公式的简化一般与制造工艺无关 D.同一逻辑可以由多种电路实现，逻辑综合则选择与面积、延迟时间、功耗等要求最接近的电路
