直流四探针笔法测量电阻率时，首先将样品测试面进行研磨或喷砂处理，以增大表面复合，减少少数载流子注入的影响。

直流四探针笔法测量电阻率时，假定半导体样品的电阻率是均匀的，并假定它是半无限大的样品。

判断题直流四探针笔法测量电阻率时，假定半导体样品的电阻率是均匀的，并假定它是半无限大的样品。

在位错密度的两种表示方法中，通常采用位错的体密度来表示。

判断题在位错密度的两种表示方法中，通常采用位错的体密度来表示。

原生晶体中的漩涡缺陷不容易充分显示，尤其是直拉单晶，经过热处理才变得明显化。

判断题原生晶体中的漩涡缺陷不容易充分显示，尤其是直拉单晶，经过热处理才变得明显化。