单项选择题
A.十几B.五十几C.二十几
一维情况下以突变pn结冶金学界面处为x轴的零点,计算室温下平衡硅pn结中导带底比n区电中性区高0.1eV的位置...
单项选择题一维情况下以突变pn结冶金学界面处为x轴的零点,计算室温下平衡硅pn结中导带底比n区电中性区高0.1eV的位置与耗尽区在n区边界xn间的距离(p区:Na=1E18cm-3,n区:Nd=1E16cm-3,εr=11.9):()
A.1.0umB.0.1umC.0.01umD.0.5um
Si器件中,典型的少子扩散长度的数量级在()。A.厘米B.纳米C.毫米D.微米
单项选择题Si器件中,典型的少子扩散长度的数量级在()。
A.厘米B.纳米C.毫米D.微米
Si芯片的最高工作温度约为()摄氏度。A.300B.250C.150D.200
单项选择题Si芯片的最高工作温度约为()摄氏度。
A.300B.250C.150D.200