用垂直法定位工件中缺陷的水平位置就在探头的（）之下。

探伤中测定缺陷在工件中的（），称为定位。A.方向B.大小C.位置D.形状

单项选择题探伤中测定缺陷在工件中的（），称为定位。

双探头法中并列式扫查主要是用来发现与检测面（）的缺陷。A.垂直B.平行C.倾斜D.距离近

单项选择题双探头法中并列式扫查主要是用来发现与检测面（）的缺陷。

双探头法中K形扫查、串列式扫查主要都是用来发现与检测面（）的面状缺陷。A.垂直B.平行C.倾斜D.距离近

单项选择题双探头法中K形扫查、串列式扫查主要都是用来发现与检测面（）的面状缺陷。