单项选择题
A.GB/T2951.32-2008 B.GB/T2951.14-2008 C.GB/T2951.31-2008 D.GB/T2951.12-2008
绝缘低温弯曲试验中，试棒应以约每（）s转一圈的速率匀速旋转。A.10B.6C.5D.3
单项选择题绝缘低温弯曲试验中，试棒应以约每（）s转一圈的速率匀速旋转。
A.10 B.6 C.5 D.3
绝缘低温弯曲试验中，试棒的直径应为试样直径的（）倍。A.4B.5C.4.5D.4-5
单项选择题绝缘低温弯曲试验中，试棒的直径应为试样直径的（）倍。
A.4 B.5 C.4.5 D.4-5
绝缘低温弯曲试验一般适用于外径（）mm及以下的圆形绝缘线芯及不能制备哑铃试件的扇形绝缘线芯。A.25.0B.2...
单项选择题绝缘低温弯曲试验一般适用于外径（）mm及以下的圆形绝缘线芯及不能制备哑铃试件的扇形绝缘线芯。
A.25.0 B.20.0 C.15.0 D.12.5
