单项选择题
A.该测量系统从%P/T角度来说是完全合格的B.该测量系统从%P/T角度来说是勉强合格的C.该测量系统从%P/T角度来说是不合格的D.上述数据不能得到%P/T值，从而无法判断
H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度，其生产规格是500±50μ（微米）。测厚仪在11年2月10日曾由上级主...
单项选择题H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度，其生产规格是500±50μ（微米）。测厚仪在11年2月10日曾由上级主管部门进行过校准。为了监测此测厚系统的性能，从3月1日开始，每天早晨正式工作前，先对一个厚度为500μ的标准片连续测量5次，坚持检测30天，记录测量的偏差值，共得到150个数据。从数据上看，这30天的状况是受控的，所有的点都落入控制限范围内。计算后得知，这150个偏差值数据的平均值X=0.94μ，标准差为S=1.42μ，经单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异。总之，整个测量系统的准确性（Accuracy）、精确性（Precision）及稳定性（Stability）都是合格的。这里“此测量系统的准确性（Accuracy）是合格的”指的是（）。
A.这30天所有的数据点都落入控制限范围内 B.X=0.94μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10％，满足GR&R要求 C.S=1.42μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10％，满足P/T要求 D.对于150个数据进行单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异
某企业拟购买一部关键设备，现有两个供应商（甲、乙）均可提供相同型号的设备，为了检验设备的质量，质量工程师对甲、...
单项选择题某企业拟购买一部关键设备，现有两个供应商（甲、乙）均可提供相同型号的设备，为了检验设备的质量，质量工程师对甲、乙两台设备进行了过程能力分析，结果发现，甲设备：Cp=1.8，Cpk=1.3，乙设备：Cp=1.31，Cpk=1.3。假定甲乙设备价格相同，其它安装和服务也基本相同。根据这一结果，我们可以判定（）
A.甲设备比乙设备好一些，因为甲设备的Cp更高一些 B.甲设备和乙设备一样，因为甲设备和乙设备的Cpk相同 C.乙设备要比甲设备好一些，因为乙设备的Cp与Cpk接近，表明目标中心与分布中心基本重合 D.以上结论都不对
公差为10±0.02mm，假设直径服从正态分布，知Cp=1.0，Cpk=Cpu=0.8，因此过程分布中心是（）...
单项选择题公差为10±0.02mm，假设直径服从正态分布，知Cp=1.0，Cpk=Cpu=0.8，因此过程分布中心是（）
A.10.001mm B.10.002mm C.10.004mm D.10.006mm
