频率下限则由探伤灵敏度、脉冲高度及指向性决定。

表面波探头用于探测工件表面缺陷。

判断题表面波探头用于探测工件表面缺陷。

双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

斜探头是通过波形转换来实现横波探伤的。

判断题斜探头是通过波形转换来实现横波探伤的。